南通PCB測(cè)試系統(tǒng)價(jià)位

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2024-10-12

CAF測(cè)試(導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試)是在特定的環(huán)境下,通過(guò)在印刷電路板上施加固定的直流電壓,經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試(1~1000小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生(IONMIGRATION),并記錄電阻值變化狀況。其目的是評(píng)估PCB在極端環(huán)境條件下的性能和可靠性,特別是針對(duì)離子遷移與CAF現(xiàn)象。長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試中的穩(wěn)定性問(wèn)題有哪些挑戰(zhàn)因素呢。首先是環(huán)境條件:CAF測(cè)試通常在高溫高濕的環(huán)境中進(jìn)行,如85℃、85%RH。這種極端條件對(duì)測(cè)試設(shè)備的穩(wěn)定性和可靠性提出了極高要求。長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行在這樣的環(huán)境中,可能導(dǎo)致測(cè)試設(shè)備出現(xiàn)性能下降、誤差增大等問(wèn)題。其次是電壓穩(wěn)定性:CAF測(cè)試需要施加恒定的直流電壓,電壓的波動(dòng)可能直接影響測(cè)試結(jié)果。長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試中,電壓源的穩(wěn)定性尤為重要,需要確保在整個(gè)測(cè)試過(guò)程中電壓值保持恒定。電阻值監(jiān)測(cè)也是一項(xiàng)重大挑戰(zhàn):在測(cè)試過(guò)程中,需要實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)電阻值的變化。長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試可能導(dǎo)致電阻值監(jiān)測(cè)設(shè)備出現(xiàn)漂移、噪聲干擾等問(wèn)題,從而影響測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。此外,還有因設(shè)備故障、數(shù)據(jù)記錄與分析、以及其他人為影響因素帶來(lái)的可靠性問(wèn)題也會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生比較大的影響。國(guó)磊GM8800數(shù)據(jù)傳輸速度,改寫(xiě)行業(yè)新標(biāo)準(zhǔn)。南通PCB測(cè)試系統(tǒng)價(jià)位

南通PCB測(cè)試系統(tǒng)價(jià)位,測(cè)試系統(tǒng)

杭州國(guó)磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司是一家專(zhuān)注于高性能半導(dǎo)體/電子測(cè)試系統(tǒng)的研發(fā)、制造、銷(xiāo)售和服務(wù)的高科技企業(yè)。公司由半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)**團(tuán)隊(duì)創(chuàng)立,具有豐富的半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)及產(chǎn)業(yè)化經(jīng)驗(yàn)。團(tuán)隊(duì)掌握產(chǎn)品核心技術(shù),擁有先進(jìn)的電子、通信與軟件技術(shù),涵蓋精密源表、高速通信、精密測(cè)量、光電技術(shù)、功率電路、嵌入式程序設(shè)計(jì)、計(jì)算機(jī)程序設(shè)計(jì)等眾多領(lǐng)域。公司主要面向集成電路IC(模擬/數(shù)字/混合芯片)、功率器件、光電器件等芯片行業(yè),以及鋰電/儲(chǔ)能/新能源汽車(chē)/ICT/LED/醫(yī)療等領(lǐng)域,為客戶(hù)提供高性能的實(shí)驗(yàn)室-工程驗(yàn)證-量產(chǎn)全流程的測(cè)試技術(shù)、產(chǎn)品與解決方案。目前公司逐步形成了以半導(dǎo)體/電子測(cè)試系統(tǒng)、PXI/PXIe板卡、GTFY可編程測(cè)試軟件等模塊為技術(shù)基礎(chǔ)的產(chǎn)品體系。由杭州國(guó)磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司研發(fā)推出的GM8800導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試系統(tǒng)是一款用于測(cè)量表面電化學(xué)反應(yīng)的影響的設(shè)備,產(chǎn)品性能表現(xiàn)優(yōu)異,足以替代進(jìn)口GEN3系列產(chǎn)品。系統(tǒng)可配置16個(gè)高性能測(cè)試板卡,支持測(cè)量256個(gè)單獨(dú)的測(cè)量點(diǎn)和高達(dá)1014Ω的精細(xì)電阻測(cè)量。軟硬件高度集成,頻繁的監(jiān)測(cè)功能提供了電化學(xué)反應(yīng)在電路組件上發(fā)生情況的全部畫(huà)面。測(cè)量結(jié)果分析功能強(qiáng)大,性能穩(wěn)定,操作方便,極大地滿(mǎn)足客戶(hù)需求。臺(tái)州PCB測(cè)試系統(tǒng)制作高阻測(cè)試設(shè)備助力半導(dǎo)體行業(yè),確保芯片絕緣達(dá)標(biāo)。

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導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試(CAF測(cè)試)設(shè)備的應(yīng)用范圍很廣,主要涵蓋電子制造、通信、汽車(chē)電子和航空航天等行業(yè)。在電子制造領(lǐng)域,它用于評(píng)估印刷電路板的絕緣可靠性,預(yù)防電化學(xué)遷移(CAF)現(xiàn)象導(dǎo)致的短路風(fēng)險(xiǎn)。通信行業(yè)則利用CAF測(cè)試設(shè)備確保基站設(shè)備在復(fù)雜環(huán)境下的穩(wěn)定運(yùn)行。汽車(chē)電子行業(yè)中,CAF測(cè)試設(shè)備對(duì)于汽車(chē)電路板和電池管理系統(tǒng)的安全性能評(píng)估至關(guān)重要。而在航空航天領(lǐng)域,它則用于評(píng)估航空電子設(shè)備在極端條件下的可靠性。這些應(yīng)用均體現(xiàn)了CAF測(cè)試設(shè)備在保障電子產(chǎn)品及其組件可靠性方面的重要作用。

導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試(CAF測(cè)試)結(jié)果通常以電阻值變化、絕緣失效時(shí)間等關(guān)鍵指標(biāo)呈現(xiàn)。在解析測(cè)試結(jié)果時(shí),需要重點(diǎn)關(guān)注以下三個(gè)方面:一是電阻值變化:測(cè)試過(guò)程中,若觀察到電阻值明顯降低,可能意味著絕緣層出現(xiàn)了導(dǎo)電通道,即發(fā)生了CAF現(xiàn)象。電阻值的變化幅度和速率,是評(píng)估CAF程度的重要指標(biāo)。二是絕緣失效時(shí)間:絕緣失效時(shí)間指的是從測(cè)試開(kāi)始到絕緣層完全失效所需的時(shí)間。這個(gè)時(shí)間的長(zhǎng)短直接反映了絕緣層的可靠性和耐用性。較短的絕緣失效時(shí)間意味著絕緣層更容易受到CAF現(xiàn)象的影響。三是失效模式分析:除了關(guān)注電阻值和絕緣失效時(shí)間外,還需要對(duì)失效模式進(jìn)行深入分析。通過(guò)檢查失效位置的形貌、材料狀態(tài)等信息,可以進(jìn)一步了解CAF現(xiàn)象產(chǎn)生的原因和機(jī)制,為后續(xù)的改進(jìn)提供依據(jù)。工程師使用高阻測(cè)試設(shè)備,排查電路中的微小漏電點(diǎn)。

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先進(jìn)的導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試(CAF測(cè)試)方法的材料準(zhǔn)備與傳統(tǒng)方法類(lèi)似,需要選擇具有代表性的PCB樣品,并進(jìn)行預(yù)處理。接下來(lái)設(shè)定好實(shí)驗(yàn)條件:根據(jù)測(cè)試需求,設(shè)定合適的溫度、濕度、電壓等實(shí)驗(yàn)條件,并設(shè)置測(cè)試時(shí)間。進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)搭建:搭建自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),包括測(cè)試平臺(tái)、控制軟件、數(shù)據(jù)采集設(shè)備等。然后開(kāi)始測(cè)試過(guò)程:1.將PCB樣品放置在測(cè)試平臺(tái)上,通過(guò)控制軟件設(shè)置測(cè)試參數(shù)。2.系統(tǒng)自動(dòng)開(kāi)始測(cè)試,并實(shí)時(shí)采集數(shù)據(jù),如電流、電壓、電阻等。3.在測(cè)試過(guò)程中,系統(tǒng)可以自動(dòng)調(diào)整測(cè)試條件,以模擬不同的工作環(huán)境。4.測(cè)試結(jié)束后,系統(tǒng)自動(dòng)保存測(cè)試數(shù)據(jù),并生成測(cè)試報(bào)告。所有操作完成后進(jìn)行數(shù)據(jù)分析:利用專(zhuān)業(yè)軟件對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,評(píng)估PCB樣品的CAF性能和可靠性。潮濕或蒸汽壓與金屬鹽類(lèi)共同作用,促進(jìn)CAF的發(fā)生。PCB測(cè)試系統(tǒng)工藝

AUTO CAF測(cè)試系統(tǒng)采用先進(jìn)的設(shè)計(jì)理念和技術(shù),確保系統(tǒng)的先進(jìn)性和競(jìng)爭(zhēng)力。南通PCB測(cè)試系統(tǒng)價(jià)位

隨著電子產(chǎn)品的小型化和復(fù)雜化發(fā)展,等待PCB電路設(shè)計(jì)師的是越來(lái)越復(fù)雜的電路設(shè)計(jì)和不斷縮小的電子元件尺寸。設(shè)計(jì)師需要處理大量的信號(hào)線、電源線和地線,確保它們之間的干擾盡可能小,同時(shí)滿(mǎn)足電氣性能和可靠性要求。還需要在更小的空間內(nèi)布局更多的元件和電路,這要求設(shè)計(jì)師具備高超的布局和布線技術(shù),以充分利用有限的板面空間。那如何才能早些知道設(shè)計(jì)的產(chǎn)品是否能夠滿(mǎn)足可靠性要求呢,答案就是充分運(yùn)用導(dǎo)電陽(yáng)極絲(CAF)測(cè)試的技術(shù)手段。南通PCB測(cè)試系統(tǒng)價(jià)位

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