冷卻體）的選定方法、實(shí)際安裝的注意事項(xiàng)7-7第8章并聯(lián)連接1.電流分配的阻礙原因8-22.并聯(lián)連接方法8-3第9章評(píng)價(jià)、測(cè)定方法1.適用范圍9-12.評(píng)價(jià)、測(cè)定方法9-1Qualityisourmessage第1章構(gòu)造與特征目錄1.元件的構(gòu)造與特征1-22.富士電機(jī)電子設(shè)備技術(shù)的IGBT1-33.通過控制門極阻斷過電流1-54.限制過電流功能1-65.模塊的構(gòu)造，隨著雙極型功率晶體管模塊和功率MOSFET的出現(xiàn)，已經(jīng)起了很大的變化。這些使用交換元件的各種電力變換器也隨著近年來節(jié)能、設(shè)備小型化輕量化等要求的提高而急速地發(fā)展起來。但是，電力變換器方面的需求，并沒有通過雙極型功率晶體管模塊和功率MOSFET得到完全的滿足。雙極型功率晶體管模塊雖然可以得到高耐壓、大容量的元件，但是卻有交換速度不夠快的缺陷。而功率MOSFET雖然交換速度足夠快了，但是存在著不能得到高耐壓、大容量元件等的缺陷。IGBT（JEDEC登錄名稱，絕緣柵雙極晶體管）正是作為順應(yīng)這種要求而開發(fā)的，它作為一種既有功率MOSFET的高速交換功能又有雙極型晶體管的高電壓、大電流處理能力的新型元件，今后將有更大的發(fā)展?jié)摿?。發(fā)表評(píng)論請(qǐng)自覺遵守互聯(lián)網(wǎng)相關(guān)的政策法規(guī)，嚴(yán)禁發(fā)布***、**、反動(dòng)的言論。太陽(yáng)能發(fā)電廠和儲(chǔ)能系統(tǒng)等；同時(shí)適用于工業(yè)和汽車級(jí)應(yīng)用。河北模塊報(bào)價(jià)表
是否受熱損壞。（如果損壞已變形或燒熔）6．檢測(cè)芯片8316是否擊穿：測(cè)量方法：用萬用表測(cè)量8316引腳，要求1和2；1和4；7和2；7和4之間不能短路。7．IGBT處熱敏開關(guān)絕緣保護(hù)是否損壞。按鍵動(dòng)作不良的檢測(cè)測(cè)量CPU口線是否擊穿：二、按鍵動(dòng)作不良用萬用表二極管檔測(cè)量CPU極與接地端，均有，萬用表紅筆接“地”；黑筆接“CPU每一極口線”。否則，說明CPU口線擊穿。三、功率不能達(dá)到到要求1．線圈盤短路：測(cè)試線圈盤的電感量：PSD系數(shù)為L(zhǎng)=157±5μH，PD系列為L(zhǎng)=140±5μH。2．鍋具與線圈盤距離是否正常。3．鍋具是否是指定的鍋具。四、檢查各元?dú)饧欠袼蓜?dòng)，是否齊全。裝配后不良狀況的檢查：1.不加熱：檢查互感器是否斷腳。2.插電后長(zhǎng)鳴：檢查溫度開關(guān)端子是否接插良好。樓3.無法開機(jī)：檢查熱敏電阻端子是否接插良好。4.無小物檢知（不報(bào)警）：檢查電阻R301~R307是否正常。R301~R302為68KΩR303~R306為130KΩR307為Ω5.風(fēng)扇不轉(zhuǎn)；檢查三極管Q2是否燒壞。（一般燒壞三極管引腳跟部已發(fā)黃；也可用萬用表二極管檔測(cè)量）[本帖***由嚴(yán)朝基于2009-1-1209:51編輯]贊賞共11人贊賞本站是提供個(gè)人知識(shí)管理的網(wǎng)絡(luò)存儲(chǔ)空間，所有內(nèi)容均由用戶發(fā)布，不**本站觀點(diǎn)。如發(fā)現(xiàn)有害或侵權(quán)內(nèi)容。黑龍江模塊商家具有比較高功率密度和更多功能的高性能平板封裝器件、具有高性價(jià)比的晶閘管/二極管模塊。
本實(shí)用新型涉及驅(qū)動(dòng)電路技術(shù)領(lǐng)域，具體是風(fēng)電變流器的igbt驅(qū)動(dòng)電路。背景技術(shù)：風(fēng)電變流器系統(tǒng)電壓690v，一般采用1700v的igbt模塊，大功率igbt模塊開關(guān)速度快，產(chǎn)生很高的di/dt和du/dt，帶來emc電磁干擾問題，影響變流器的可靠運(yùn)行，甚至損壞igbt模塊，為了提高抗干擾能力，有以下兩種解決方案：1）、采用光纖傳遞控制信號(hào)，控制電路弱信號(hào)與igbt模塊的強(qiáng)信號(hào)實(shí)現(xiàn)電氣完全隔離，抗干擾能力強(qiáng)，可靠性高，但是光纖成本昂貴；2）、通常采用**的驅(qū)動(dòng)器和驅(qū)動(dòng)芯片，例如風(fēng)電**驅(qū)動(dòng)器2sd300，采用專業(yè)的調(diào)制與解調(diào)芯片，通過脈沖變壓器傳遞驅(qū)動(dòng)信號(hào)，抗干擾能力強(qiáng)，可靠性高，大量應(yīng)用于風(fēng)電變流器領(lǐng)域。以上兩種方案雖然解決了風(fēng)電變流器emc抗干擾問題，但是成本相對(duì)較高，較為經(jīng)濟(jì)的解決方案是采用光耦來實(shí)現(xiàn)電氣隔離，但是光耦的原邊一般采用低壓電路（15v或者5v），容易受干擾。另外，大功率igbt模塊在運(yùn)行過程中產(chǎn)生高的di/dt和du/dt，會(huì)導(dǎo)致igbt模塊上下管門極誤觸發(fā)，導(dǎo)致igbt模塊上下管直通，產(chǎn)生短路電流，如果不及時(shí)保護(hù)就會(huì)導(dǎo)致igbt模塊損壞，嚴(yán)重影響變流器正常運(yùn)行。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：本實(shí)用新型的目的在于提供風(fēng)電變流器的igbt驅(qū)動(dòng)電路。
更好的電氣性能新的機(jī)械設(shè)計(jì)也改善了電氣性能。事實(shí)上，***降低的熱阻允許更高的輸出電流。得益于角形柵極可控硅的使用，新的芯片具有更大的有效表面積，可以流過更多的電流。由于這些變化，在與當(dāng)前模塊具有同樣有效芯片面積的情況***過芯片的輸出電流大約多了10％以上。衡量可控硅模塊可靠性的另一個(gè)重要參數(shù)是浪涌電流。該值顯示了二極管/可控硅的穩(wěn)健性，指的是故障條件下二極管/可控硅能夠經(jīng)受的住而無損傷的單一正弦半波通態(tài)電流脈沖，該脈沖持續(xù)10或（50或60Hz），這種情況在二極管/可控硅的使用壽命期間應(yīng)該發(fā)生的很少［4］。認(rèn)證所有賽米控的模塊都要經(jīng)歷質(zhì)量審批測(cè)試程序。測(cè)試的目的是在各種不同的測(cè)試條件下確定設(shè)計(jì)的極限，以評(píng)價(jià)生產(chǎn)過程的一致性，并對(duì)提出的工藝和設(shè)計(jì)的改變對(duì)可靠性的影響進(jìn)行評(píng)估。為此，定義了標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試和條件。測(cè)試本身主要集中于芯片和封裝［5］。所有產(chǎn)品都經(jīng)**批準(zhǔn)認(rèn)可，如UL（UnderwritersLaboratories保險(xiǎn)商實(shí)驗(yàn)室）。應(yīng)用領(lǐng)域SEMIPACK產(chǎn)品可被用作為整流直流電源、交流電機(jī)控制和驅(qū)動(dòng)的軟起動(dòng)器，或者用在電池充電器及焊接設(shè)備中。結(jié)論多虧了第六代SEMIPACK中新的層概念，模塊更加可靠。不用說，更低的熱阻，改善了的電氣性能。外加正向電壓較小時(shí)，二極管呈現(xiàn)的電阻較大。
死區(qū)電路的作用是：實(shí)現(xiàn)上下管驅(qū)動(dòng)信號(hào)有一定的時(shí)間間隔td，例如上管驅(qū)動(dòng)信號(hào)關(guān)閉后，需要等待td延時(shí)后才能開通下管驅(qū)動(dòng)信號(hào)；互鎖電路的作用是：上下管驅(qū)動(dòng)信號(hào)不能同時(shí)為有效，避免產(chǎn)生上下管驅(qū)動(dòng)直通信號(hào)；保護(hù)電路的作用是：當(dāng)副邊出現(xiàn)故障信號(hào)是，保護(hù)電路能夠同時(shí)關(guān)閉上下管驅(qū)動(dòng)信號(hào)。15v電源輸入濾波電路的作用是：對(duì)輸入15v電源進(jìn)行濾波，維持15v電源的穩(wěn)定并且降低emc干擾。dc/dc電路的的作用是：15v電源高頻脈寬調(diào)制dc/dc。隔離電路包括：驅(qū)動(dòng)光耦、反饋光耦和隔離變壓器。驅(qū)動(dòng)光耦的作用是：傳遞原邊驅(qū)動(dòng)信號(hào)給副邊電路，電氣隔離原邊低壓側(cè)和副邊高壓側(cè)。反饋光耦的作用是：傳遞副邊故障信號(hào)給原邊電路，電氣隔離原邊低壓側(cè)和副邊高壓側(cè)。隔離變壓器的作用是：輸出上下管驅(qū)動(dòng)電源，電氣隔離原邊低壓側(cè)和副邊高壓側(cè)。副邊電路包括：±15v電源、驅(qū)動(dòng)電路、vce-sat檢測(cè)電路。±15v電源的作用是：輸出igbt模塊所推薦的驅(qū)動(dòng)電源。驅(qū)動(dòng)電路的作用是：副邊驅(qū)動(dòng)信號(hào)放大，推挽輸出。vce-sat檢測(cè)電路的作用是：檢測(cè)igbt模塊退飽和或過流信號(hào)，故障信號(hào)反饋給原邊。vce-sat檢測(cè)電路分別連接igbt模塊、驅(qū)動(dòng)電路和光耦隔離電路。這些產(chǎn)品可用于通用驅(qū)動(dòng)器、牽引、伺服裝置和可再生能源發(fā)電（如光伏逆變器或風(fēng)電應(yīng)用）等應(yīng)用。節(jié)能模塊性價(jià)比
二極管的伏安特性是指加在二極管兩端電壓和流過二極管的電流之間的關(guān)系。河北模塊報(bào)價(jià)表
通過電阻和igbt模塊導(dǎo)通壓降vce-sat的分壓原理：，不檢測(cè)故障，vce-sat檢測(cè)被禁止，該狀態(tài)下不檢測(cè)vce，原因是igbt***狀態(tài)vce電壓為關(guān)斷電壓;下管vce-sat檢測(cè)電路由r15,d12,r16構(gòu)成vce-sat采樣電路:當(dāng)驅(qū)動(dòng)信號(hào)drv_l為高電平（15v）時(shí)，通過電阻和igbt模塊導(dǎo)通壓降vce-sat的分壓原理：，采樣信號(hào)vce_h，r6和r7構(gòu)成分壓電路(通過r6和r7設(shè)定保護(hù)值)，比較信號(hào)comp_h，通過vce_h與comp_h的比較實(shí)現(xiàn)vce飽和壓降的檢測(cè)，并輸出故障信號(hào)fault_h：當(dāng)vce_h小于comp_h，fault_h為高電平，正常狀態(tài)；當(dāng)vce_h大于comp_h，fault_h為低電平，報(bào)故障狀態(tài);當(dāng)驅(qū)動(dòng)信號(hào)drv_h為低電平（-15v）時(shí)，通過電阻和igbt模塊導(dǎo)通壓降vce-sat的分壓原理：，不檢測(cè)故障，vce-sat檢測(cè)被禁止，該狀態(tài)下不檢測(cè)vce，原因是igbt***狀態(tài)vce電壓為關(guān)斷電壓;當(dāng)fault_h為低電平時(shí),光耦u1_out輸出高電平，經(jīng)過d5和v5后故障信號(hào)fault_p為低電平，對(duì)驅(qū)動(dòng)信號(hào)進(jìn)行***。下管vce-sat檢測(cè)電路由r15,d12,r16構(gòu)成vce-sat采樣電路，采樣信號(hào)vce_l，r13和r14構(gòu)成分壓電路(通過r13和r14設(shè)定保護(hù)值)，比較信號(hào)comp_l，通過vce_l與comp_l的比較實(shí)現(xiàn)vce-sat的檢測(cè)，并輸出故障信號(hào)fault_l，當(dāng)fault_l為低電平時(shí)。河北模塊報(bào)價(jià)表
江蘇芯鉆時(shí)代電子科技有限公司坐落于昆山開發(fā)區(qū)朝陽(yáng)東路109號(hào)億豐機(jī)電城北樓A201，是集設(shè)計(jì)、開發(fā)、生產(chǎn)、銷售、售后服務(wù)于一體，電子元器件的貿(mào)易型企業(yè)。公司在行業(yè)內(nèi)發(fā)展多年，持續(xù)為用戶提供整套IGBT模塊，可控硅晶閘管，二極管模塊，熔斷器的解決方案。公司具有IGBT模塊，可控硅晶閘管，二極管模塊，熔斷器等多種產(chǎn)品，根據(jù)客戶不同的需求，提供不同類型的產(chǎn)品。公司擁有一批熱情敬業(yè)、經(jīng)驗(yàn)豐富的服務(wù)團(tuán)隊(duì)，為客戶提供服務(wù)。英飛凌,西門康,艾賽斯,巴斯曼以符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的產(chǎn)品質(zhì)量為目標(biāo)，并始終如一地堅(jiān)守這一原則，正是這種高標(biāo)準(zhǔn)的自我要求，產(chǎn)品獲得市場(chǎng)及消費(fèi)者的高度認(rèn)可。江蘇芯鉆時(shí)代電子科技有限公司以先進(jìn)工藝為基礎(chǔ)、以產(chǎn)品質(zhì)量為根本、以技術(shù)創(chuàng)新為動(dòng)力，開發(fā)并推出多項(xiàng)具有競(jìng)爭(zhēng)力的IGBT模塊，可控硅晶閘管，二極管模塊，熔斷器產(chǎn)品，確保了在IGBT模塊，可控硅晶閘管，二極管模塊，熔斷器市場(chǎng)的優(yōu)勢(shì)。