《電子信息產(chǎn)品中有毒有害物質(zhì)的檢測方法》（以下簡稱《檢測方法》，標(biāo)準(zhǔn)號(hào)為 SJ/T 11365-2006）對(duì)RoHS要求中有害元素測試方法給予了限定。其中 X射線熒光光譜 法（ XRF ）作為一種zui快捷、方便的方法被制定為快su篩選方法。使用 X射線熒光光譜 法（ XRF ）可對(duì)鉛（Pb）、汞（Hg）、鎘（Cd）、鉻（Cr）以及溴（Br）五種元素的相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行精que測試?？墒腔?XRF 的原理所獲得的結(jié)果只是元素的含量，也就是說如果這種篩選測試得到鉻（Cr）或溴（Br）的含量，即使他們超標(biāo)也并不能代表有害物（Cr VI）與阻燃劑PBB和PBDE）超標(biāo)，這個(gè)測試結(jié)果（指含有）只是含有相應(yīng)有害物質(zhì)的必要條件而并非充分條件。這也就是限值表中沒有這兩種有害物質(zhì)不合格的限值判斷依據(jù)的原因。
產(chǎn)品名稱：(E8：RoHS檢測儀器/無鹵檢測儀） 描述：HeLeeX E8是一款專門RoHS檢測儀器，其核心光路系統(tǒng)集合國內(nèi)外幾十年EDXRF尖端技術(shù)，核心部件采用美國進(jìn)口，軟件算法采用美國EDXRF前沿技術(shù)，儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有權(quán)威第三方檢測機(jī)構(gòu)報(bào)告；HeLeeXE8精密度高、準(zhǔn)確度、檢出限等技術(shù)參數(shù)全面超過國內(nèi)外同類儀器。 硬件配置 Rohs檢測儀器探測器 ● 類型：X-123 Si-PIN探測器（采用原裝進(jìn)口高性能電致冷半導(dǎo)體探測器） ● Be窗厚度：1mil ● 晶體面積：25mm2 ● zuijia分辨率：145eV RoHS檢測儀器X射線管 ● 電 壓：0~50kV ● zui大電流：2.0mA ● zui大功率：50W ● 靶 材：Mo ● Be窗厚度：0.2mm ● 使用壽命：大于2萬小時(shí) 高壓電源 ● 輸出電壓：0~50kV ● 燈絲電流：0~2mA ● zui大功率：50W ● 紋波系數(shù)：0.1%（p-p值） ● 8小時(shí)穩(wěn)定性：0.05% 攝像頭 ● 微焦距 ● 免驅(qū)動(dòng) ● 500萬像素 準(zhǔn)直器、濾光片 ● 快拆卸準(zhǔn)直器、濾光片系統(tǒng) ● 多種材質(zhì)準(zhǔn)直器 ● 光斑大小0.3mm、0.7mm、1.2mm、2.0mm、5.0mm、7.0mm可選 ●多種濾光片、準(zhǔn)直器組合，軟件自動(dòng)切換 其他配件 ●進(jìn)口高性能開關(guān)電源 ●進(jìn)口低噪聲、大風(fēng)量風(fēng)扇
禾苗E8-SPR?可以管控RoHS指令的Pb、Cd、Hg、PBB和PBDE中的Br、六價(jià)鉻的Cr和無鹵指令中的Cl和Br元素。可完全滿足RoHS/WEEE/無鹵相關(guān)管控要求。精心設(shè)計(jì)的開放式工作曲線功能，特別適用于多材料的工廠制程控制，在業(yè)界具有良好的口碑。?